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【CS创世SD NAND征文】存储芯片在工业电表中的应用与技术演进

  • 1.工业电表的市场背景
  • 2.技术方案分析
  • 3.核心技术特性
    • 3.1.主控芯片:APM32F465VET6
    • 3.3.存储芯片:CSNP4GCR01-DPW
      • 3.3.1. 基本概述
      • 3.3.2. 核心特性
      • 3.3.3. 优势特点
      • 3.3.4 四大管理算法
  • 4.存储芯片性能实测
    • 4.1.读写性能
      • 测试数据为64MiB
      • 测试数据为128MiB
    • 4.2.参数说明
      • 1. SEQ1M Q8T1
      • 2. SEQ1M Q1T1
      • 3. RND4K Q32T1
      • 4. RND4K Q1T1
    • 4.3 数据总结
  • 5.行业展望

1.工业电表的市场背景

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近年来,工业电表市场正加速从传统计量设备向智能化、网络化方向升级。根据行业研究数据显示,2022年全球智能电表市场规模已达到约120亿美元,并呈现持续增长态势,预计到2028年将突破180亿美元,年均复合增长率(CAGR)显著。这一增长主要受全球智能电网建设、工业4.0推进及碳中和政策驱动,其中工业领域的高精度智能电表需求尤为突出。

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市场现状

  • 智能化渗透:工业场景中,支持物联网(IoT)和远程监控的智能电表占比快速提升。
  • 能效管理需求:企业对用电数据的实时分析需求推动高端工业智能电表普及。
  • 区域差异:欧美市场以存量替换为主,亚太地区(尤其中国)因新能源项目加速成为增长主力。

2.技术方案分析

在工业控制设备的设计中,极海半导体的APM32工业级微控制器因其出色的性能和稳定性被广泛采用。极海主控芯片配置强劲,功耗低,能保障设备长时间稳定运行。其丰富的外设接口,如UART可实现与其他模块的串行通信,SDIO、SPI、I2C接口方便接入各类传感器与执行模块,极大拓展了设备功能。

传统方案中,大容量存储一般都是使用TF卡或SD卡的方案。但是工业设备的使用场景具有高振动、温度变化大、长时间连续运行等特点,这就对存储方案的可靠性有了更高的要求。由于TF卡属于可插拔式接口,在工业场景下极易因振动造成接触不良,导致数据丢失或系统故障。在我们这个方案中,将TF卡的方案替换为了CS创世SD NAND,SD NAND芯片是出厂时直接焊接到电路板上的,从根本上解决了接触不良的问题。

功能CS品牌SD NANDTF
生产便利可靠性可SMT机贴,生产直通率高;焊接牢固只能手工焊接;生产效率低;T卡和卡座之间容易脱落
尺寸大小6*8mm,占用面积仅为使用TF卡四分之一;无结构件,容易实现防水,小巧的产品配合卡座占用面积:13*15mm占用面积大,且不好做防水
产品定位定位核心存储芯片;内置在PCB板上;要求高可靠性,高一致性;对芯片良率要求很高定位消费类产品的外置模组;可用即可;出现不良通过换货解决
内部晶圆内部使用原厂SLC NAND晶圆擦写寿命可达5-10万次,是TLCNAND的100-200倍大部分使用TLC NAND,擦写寿命只有500次左右,而且市面上产品质量参差不齐,混杂使用Down Grade甚至ink Die;擦写寿命更低
使用材质芯片内部使用芯片级黑胶体,邦线,基板,与TF卡使用材质完全不同只测试基本功能
出厂标准差异出厂标准严苛,需要通过高温回流焊,随机掉电,高低温冷热冲击等测试只要能满足SD协议即可。对内部晶圆,控制,固件不做特别要求,发生变更不会通知客户
一致性一致性高;统一的晶圆,统一的控制器和固件;如果发生变更会及时通知客户只要能满足SD协议即可。对内部晶圆,控制,固件不做特别要求,发生变更不会通知客户

经过一系列市场调研和技术分析,最终我们选用了创世SD NAND:CSNP4GCR01-DPW作为我们的存储芯片,它可以通过SPI/SD接口直连极海主控芯片。此外它支持免驱动,接上就能使用,内置的坏块管理程序可确保数据安全存储,完美切合我们的产品需求。

该存储芯片采用工业级工艺,LGA-8封装,尺寸仅6x8mm,内置SLC晶圆,擦写寿命高达10万次,并通过1万次随机掉电测试,支持温度范围-40°C~85°C。读写速度快,完全满足工业设备的数据存储需求。标准的SD 2.0协议使得用户可以直接移植标准驱动代码,省去了驱动开发环节。支持TF卡启动的SOC都可以直接使用该SD NAND,并提供STM32参考例程及原厂技术支持。

此外,设备还配备各种工业接口模块,负责数据采集、信号处理等功能;显示模块在主控芯片控制下呈现设备状态信息;各类传感器实时采集现场数据给主控芯片,处理后的关键数据存至存储芯片长期保存。

在选型时,极海主控芯片的高性能与丰富资源契合工业设备需求,CSNP4GCR01-DPW SD NAND的小巧尺寸、工业级可靠性及4Gb大容量,与主控芯片完美配合,构建出稳定高效的技术方案,为工业设备可靠运行提供坚实保障。相比传统TF卡更稳定,比eMMC更具成本优势,是工业存储应用的理想选择。

3.核心技术特性

3.1.主控芯片:APM32F465VET6

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极海APM32工业级微控制器:APM32F465VET6作为核心控制单元,基于 Arm® Cortex®-M4F 内核打造,专为高可靠的工业级嵌入式存储场景优化。其 168M主频结合SD/eMMC接口,可实现sd nand存储芯片的持续读写速度,确保工业级数据吞吐效率。

3.3.存储芯片:CSNP4GCR01-DPW

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3.3.1. 基本概述

  • 型号:CSNP4GCR01-DPW
  • 类型:NAND FLASH(兼容SD协议的贴片式TF卡)
  • 容量:4Gb(512MB)大容量。
  • 封装:LGA-8(常见为8引脚,紧凑型设计,适合空间受限场景)。

3.3.2. 核心特性

  • 接口协议
    • 兼容SD 2.0标准,支持SPI模式或SD模式,便于与主流MCU连接。
  • 存储介质
    • 采用SLC NAND,提供高可靠性和均衡擦写寿命。
  • 性能参数
    • 读写速度典型值约10-20MB/s(依赖主控和接口模式)。
    • 擦写次数:通常10万次以上(SLC方案更优)。
  • 内置控制器
    • 集成Flash管理功能(坏块处理、ECC纠错、磨损均衡),简化开发。

3.3.3. 优势特点

  • 免驱动
    即贴即用,直连SD/SPI接口即可使用,已内置Flash管理程序

  • 可贴机
    生产效率高/焊接稳定,LGA-8封装,机贴手贴都方便

  • 小尺寸
    尺寸小巧(6*8mm),助力产品颜值提升

  • 擦写寿命长
    擦写寿命长(内置SLC晶圆,擦写寿命可达5-10万次,为嵌入式而生)

  • 稳定可靠
    稳定可靠:已通过10k次随机掉电高低温冲击测试。内置FW包含平均读写,坏块管理,垃圾回收等处理机制
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3.3.4 四大管理算法

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  • 平均读写算法
    NAND Flash的块存在擦写寿命的限制。在有擦写动作时,SDNAND会调用平均读写算法,避免只擦写某一部分物理块。从而达到整体物理块的可用寿命一致。提高SDNAND整体使用寿命和稳定性。

  • 自带校验算法
    NAND Flash在存储数据时存在位反转和位偏移现象。因此数据在写入NAND Flash后需加上校验位。当数据出现错误时,SDNAND先会调用错误探测算法(EDC)发出提示,然后调用错误纠正算法(ECC)对错误数据进行修复。

  • 电荷散射算法
    NAND Flash如果对集中的物理块进行擦写动作,产生的强电场会影响到周边的块。SDNAND采用均衡电荷散射算法,可以把擦写的块在物理上均匀分布,电场相互抵消,降低擦写操作对周边块的影响。

  • 垃圾回收算法
    NAND Flash在更新数据时,新数据会写入到空白块中,存储旧数据的块会被标识为垃圾。随着”垃圾数据”的日积月累,SDNAND会主动将有效数据块搬移,然后执行整个垃圾块擦除以回收空间。

4.存储芯片性能实测

本次实测,使用的雷龙发展官方提供的测试板,搭载的芯片是CSNP4GCR01-DPW:一颗标称容量为512MB的工业级贴片式TF芯片。
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4.1.读写性能

由于工业电表对于读写性能要求还是比较高的。在收到测试板后,第一时间进行了读写性能测试。

测试数据为64MiB

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测试数据为128MiB

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4.2.参数说明

CrystalDiskMark 是一款常用的磁盘性能测试工具,其测试项目中的参数含义如下:


1. SEQ1M Q8T1

  • SEQ(Sequential):顺序读写,测试磁盘连续读写大文件时的性能(模拟大文件传输场景)。
  • 1M:测试使用的数据块大小为 1MiB(1,048,576字节)。
  • Q8T1
    • Q8(Queue Depth 8):队列深度为 8,表示同时发起 8 个 I/O 请求。
    • T1(Thread 1):单线程测试。
  • 意义:反映硬盘在高队列深度、顺序读写场景下的性能(如拷贝大型视频文件)。

2. SEQ1M Q1T1

  • 参数与上述相同,但:
    • Q1(Queue Depth 1):队列深度为 1(单次 I/O 请求)。
  • 意义:测试硬盘在无并发请求、顺序读写时的性能(更接近日常单任务场景,如加载游戏或启动系统)。

3. RND4K Q32T1

  • RND(Random):随机读写,测试磁盘处理小文件、零散数据的能力(模拟操作系统或数据库场景)。
  • 4K:测试使用的数据块大小为 4KiB(4,096字节,常见于系统小文件操作)。
  • Q32T1
    • Q32:队列深度为 32(高强度并发请求)。
    • T1:单线程。
  • 意义:反映硬盘在高并发随机小文件读写下的性能(如数据库、虚拟机运行)。

4. RND4K Q1T1

  • 参数与上述相同,但:
    • Q1:队列深度为 1(单次请求)。
  • 意义:测试硬盘在无并发、随机小文件读写时的性能(如日常轻量使用场景)。

测试项数据块读写类型队列深度线程数典型应用场景
SEQ1M Q8T11MiB顺序81大文件连续读写(视频编辑)
SEQ1M Q1T11MiB顺序11单任务大文件传输
RND4K Q32T14KiB随机321高负载数据库/多任务小文件
RND4K Q1T14KiB随机11日常系统操作(开机/启动软件)

4.3 数据总结

从测试结果可以看到:

  1. CSNP4GCR01-DPW的顺序读可以达到23MB/s左右,顺序写也可以达到18MB/s上下。
  2. CSNP4GCR01-DPW的随机读可以突破6MB/s,随机写也可以达到4MB/s以上。

总的来说,这颗芯片的读写速度还是非常优秀的,完全可以满足电表集中器的存储需求。

5.行业展望

工业电表正站在智能化与可持续发展的交汇点上。随着工业4.0、智能电网和碳中和政策的加速落地,电表的功能将从单纯的计量工具进化为能源管理的核心枢纽。未来,边缘计算、AI算法和物联网技术的深度集成将推动电表实现数据实时分析、远程运维和碳足迹追踪等能力。同时,高可靠性存储方案(如雷龙的CSNP4GCR01-DPW)和高性能主控芯片(如极海APM32F465VET6)的普及,尤其是工业级的存储解决方案,是确保设备在复杂工业环境下的稳定运行的重中之重,将会为工业数字化转型提供坚实基础。主要体现在三大方向:

  • 数据安全与稳定性:工业场景需应对高温、振动、电磁干扰等极端条件,传统插拔式存储因接触不良导致的故障率难以满足需求,而贴片式SLC NAND通过固态封装、内置坏块管理算法,将可靠性提升至工业级标准(10万次擦写寿命)。
  • 实时性与容量升级:工业电表需长期存储高频采集的用电数据(如电压、电流、谐波等),并支持远程传输与AI分析。未来存储芯片将向大容量(GB级)、低延迟(支持随机读写4MB/s以上)方向发展,同时兼容高速接口(如SD 3.0或UHS-I)。
  • 国产化替代加速:本土厂商在SLC NAND领域实现技术突破,逐步替代海外品牌,推动供应链自主可控。预计到2028年,工业存储芯片国产化率将显著提升,降低设备成本。

未来,工业存储芯片的竞争将聚焦于长寿命SLC NAND的工艺优化(如提升晶圆良率)、嵌入式管理算法创新(如动态磨损均衡、智能纠错)以及定制化封装设计(适应工业设备小型化需求)。随着亚太地区新能源项目和制造业升级的推进,工业存储芯片市场有望以年均15%以上的增速增长,成为半导体产业中最具潜力的细分赛道之一。

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