ICT模拟零件测试方法–晶体管测试

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晶体管测试

i3070 在线测试软件为每个晶体管提供两种测试：

• 使用二极管测试对晶体管的两个 PN 结进行测试。这是检查设备存在的快速可靠的方法。
• 第二种测试通过测量两种不同发射极电流值下的基极电流来计算 npn 和 pnp 晶体管的增益。增益测试被软件标注为注释。

您可以移除增益测试的注释，也可以选择性地注释掉二极管测试。晶体管的模拟测试模块还包括一个带有名称但没有测试限制的 npn 或 pnp 晶体管测试语句。这确保了为增益测试分配了测试头资源。请注意，增益测试不会自动生成目标文件；如果移除注释进行增益测试，您还必须编译它以生成可执行的目标文件。

本节介绍：

• 晶体管测试配置
• 晶体管测试注意事项
• 晶体管语句语法
• 晶体管测量选项

晶体管测试配置

要将晶体管视为二极管进行测试，晶体管按照二极管测试的方式连接到 MOA 电路中。要测试晶体管的增益，则按照图 1 所示将晶体管连接到 MOA 电路中。源 S 总线通过电阻器连接到被测设备的发射极。检测器 I 总线连接到晶体管的基极。保护 G 总线连接到集电极。

晶体管测试配置

晶体管测试注意事项

对发射极施加 DC 电流 idc，并测量 MOA 的输出。然后将施加的电流减少指定百分比 idelta，然后再次测量 MOA 输出。这两个值用于计算被测设备的 DC 增益。

必须在测试语句中指定 idc 和 idelta 选项。系统会选择正确的源电阻和参考电阻。idc 的范围是 100uA 到 150 mA。idelta 的范围是 5 到 50%。如果未指定 idelta，系统使用 20%。

不同类型晶体管配置的唯一区别是 DC 电流的极性。正电流应用于 npn，而负电流应用于 pnp。不过，您无需在 idc 语句中指定极性，因为 npn 和 pnp 语句会自动选择它。

晶体管语句语法

npn <hi>,<lo>npn <hi>,<lo>,<return>npn <hi>,<lo>,<options>npn <hi>,<lo>,<options>,<return>npn <designator>,<hi>,<lo>npn <designator>,<hi>,<lo>,<return>npn <designator>,<hi>,<lo>,<options>npn <designator>,<hi>,<lo>,<options>,<return>

pnp 语句执行 pnp 晶体管测试：

pnp <hi>,<lo>pnp <hi>,<lo>,<return>pnp <hi>,<lo>,<options>pnp <hi>,<lo>,<options>,<return>pnp <designator>,<hi>,<lo>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<return>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<options>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<options>,<return>

示例：

clear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"; g to "Q1-C"npn 200, 50, co2.7, idc171.7u, idelta15clear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"diode "emitter", 805m, 600m, idc1.0m, co3.0, ar805mclear connect s to "Q1-C"; i to "Q1-B"diode "collector", 805m, 600m, idc1.0m, co3.0, ar805mclear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"; g to "Q1-C"!npn "gain", 200, 50, co2.7, idc171.7u, idelta15npn "gain"

晶体管测量选项

i3070 在线测试软件基于其对被测电路的分析为 npn 和 pnp 测试选择测量选项。您可以选择：

• 更改选项或它们的值以提高测试性能
• 手动编写在线测试

如果未指定选项，系统使用默认参数。表 1 列出了 npn 和 pnp 选项及默认值。

请注意，ASRU 加速（as）选项不适用于晶体管测试。

表 1 npn 和 pnp 语句选项

选项	默认值	描述	选项	默认值	描述
co	co10	电压合规	idelta	idelta20	电流变化
dwa	dwa0	检测器延迟	pf		通过/失败
ed		额外数字	sb		感应 B 总线
fi	fi1	滤波	sl		感应 L 总线
idc		DC 电流	wa	wa0	等待