针对SIM 卡槽生产中人工检测效率低、漏检误检率高的问题，设计了基于 LabVIEW 机器视觉的缺陷检测系统。该系统通过光学采集与图像处理算法，实现对卡槽引脚折弯、变形、漏铜等缺陷的自动检测，误报率为 0，平均检测时间小于 750ms，可替代人工完成全检，适配流水线生产需求。

应用场景

SIM 卡槽作为网络通信关键部件，其质量直接影响数据通信稳定性。在生产流水线中，需对卡槽引脚（缺失、变形、折弯）、外观（包胶、缺胶）、引脚覆铜（漏铜、覆铜不足）等缺陷进行检测。传统人工检测因视觉暂留、疲劳等问题，存在漏检率高、效率低（抽样检测为主）、人力成本高的痛点。本系统适用于流水线全检场景，可 24 小时连续运行，适配批量生产的实时检测需求。

硬件选型

工业相机

选型逻辑：SIM 卡槽规格为 42mm×22mm，需覆盖 50mm×30mm 视场（FOV），检测精度要求 0.03mm/pixel（基于香农采样定律，为实际精度 3 倍，平衡成本与精度）。经计算，长边分辨率需 1667pixel、短边 1000pixel，选用 1920×1200 分辨率相机，满足视场覆盖与精度需求；同时帧率 50fps，适配流水线运动速度，避免图像模糊。
适配性：CMOS 类型相机响应速度快，GigE 接口传输稳定，可实时将图像传输至计算机处理，符合流水线实时检测要求。

工业镜头

选型逻辑：工作距离设为 250mm（避免干扰流水线运动），根据相机靶面尺寸（长边 9.216mm、短边 5.76mm），通过公式 “焦距 =（CCD 尺寸× 工作距离）/FOV” 计算，长边对应焦距 46.08mm、短边 48mm，选用 50mm 焦距镜头，确保成像清晰且覆盖完整视场。
适配性：镜头分辨率与靶面大于相机参数，避免成像畸变，保证引脚边缘、覆铜区域等细节可清晰识别。

光源及控制器

选型逻辑：对比同轴、环形、圆顶等光源打光效果，环形光源可均匀照亮卡槽表面，弱化反光，使引脚与背景、覆铜区域与基底对比明显，减少后续算法处理难度。
适配性：光源控制器可调节亮度，适配不同批次卡槽的表面反光差异，保证成像稳定性。

软件架构

功能实现流程

图像采集

通过LabVIEW 驱动相机采集 SIM 卡槽彩色图像，同步传输至缓存区，为后续处理提供原始数据。LabVIEW的硬件接口模块可直接调用相机驱动，无需额外编写底层通信代码，快速实现图像实时采集。

预处理

灰度化：采用红色分量法（实验验证该方法下卡槽区域成像最清晰）将 32 位彩色图像转换为 8 位灰度图，降低数据量（减少 75% 运算负荷），为后续匹配加速。LabVIEW 的 “Color Plane Extraction” 函数可一键提取颜色分量，图形化配置参数，无需手动编写灰度转换算法。
形态学处理：通过腐蚀运算去除图像噪声（如卡槽表面灰尘造成的杂点），细化引脚轮廓。LabVIEW 的 “Gray Morphology” 工具提供预设运算模块，可通过下拉菜单选择腐蚀 / 膨胀等操作，参数可视化调节。

缺陷检测

轮廓匹配：基于模板匹配算法定位卡槽位置（学习阶段提取模板特征，匹配阶段搜索目标区域），LabVIEW 的模式匹配工具可设置最小匹配分数（如 0.8），过滤无效匹配，确保定位精度。
二值化检测：采用手动阈值法（阈值 0.5）将灰度图转换为二值图，提取引脚上白色斑点（缺陷区域），通过斑点面积判断引脚是否折弯、变形（面积超出阈值则判定为缺陷）。LabVIEW 的 “Threshold” 函数支持实时调节阈值，即时查看处理效果。
彩色定位：调用彩色匹配工具提取覆铜区域颜色特征，对比目标区域颜色浓度，检测漏铜缺陷（颜色浓度低于模板阈值则判定为缺陷）。

结果输出

将检测结果（合格/ 缺陷类型）显示在人机交互界面，并通过 LabVIEW 的 I/O 模块联动流水线PLC，触发缺陷品剔除机制。

架构优势

开发高效：LabVIEW 图形化编程（以图标替代文本代码）避免语法错误，开发者聚焦逻辑设计（如算法调用顺序），开发周期较传统文本编程缩短 40%。
集成便捷：内置机器视觉工具包（如 IMAQ Vision），无需集成第三方算法库，直接调用灰度化、匹配等模块，降低开发难度。
可扩展性强：通过模块化设计（采集、预处理、检测模块独立封装），可按需添加新缺陷检测逻辑（如新增划痕检测），无需重构整体架构。
交互直观：支持实时显示图像处理过程（如灰度图、二值图对比），便于调试；人机界面可自定义控件（如检测结果统计图表），满足生产监控需求。

问题与解决

问题 1：打光不均导致漏检

现象：引脚折弯、包胶缺陷因光线反射不均，成像时缺陷区域与正常区域对比弱，导致漏检（如引脚折弯漏检 2 例）。
解决：优化环形光源安装角度（倾斜 15°），并通过 LabVIEW 的光源控制模块调节亮度（提高 20% 亮度），增强缺陷区域反光差异；同时调整二值化阈值（降至 0.4），扩大缺陷区域识别范围。